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廣東瑞樂半導體科技有限公司
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無線Wafer
無線晶圓溫度測量系統(wl-WTMS)是在晶圓中嵌入了一個完整的測量系統,可以測量并記錄蝕刻工藝環境對真實工藝條件下生產晶圓的影響,無需有線連接。無線晶圓溫度測量系統(wl-WTMS)通過測量與產品工藝接近條件下的溫度數據,可以幫助工藝工程師完成調整蝕刻工藝條件,驗證及匹配腔體、和PM后的驗證等工作。
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